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侧位片的常用测量平面【基准平面、计测平面】

时间:2021-12-21 15:24:37   阅读:1188

在X线头影测量中,为了进行形态位置比较,可将各计测标志点按不同的目的连接形成直线或平面,然后测量其角度、线距及比例变化,以进行分析比较。


在临床及科研中,通常将最常用的描图平面区分为用于定位及重叠比较的基准平面及用于评价形态关系的计测平面。


1. 常用基准平面


头影测量常用基准平面

常用基准平面


(1) 眶耳平面(FH):以双侧外耳道上缘点及眶下缘点所形成的平面。在进行X线头影测量时,由于耳点及眶点均系双侧结构,影像多不重叠,此时,应各取其平均中点而确定。但应注意,在临床上不同学者确定FH平面的方法有如下差异:


① 用机械耳点定位的FH平面:X线片上,根据头颅定位仪耳杆金属环上缘点影像定位耳点,确定出FH平面。此由Tweed、Downs等所倡导,系目前国内最常用的方法。其优点是定位容易,缺点为易受定位误差及外耳道不对称变化影像。


② 用解剖耳点定位的FH平面:按X线片上外耳道解剖影像的上缘点确定出FH平面。由Ricketts等所倡导。使用该法确定耳点时不受定位仪定位误差的影响,但存在定位较难的缺点。


(2) 前颅底平面(SN):通过侧位片上鼻根点及蝶鞍中心点连线所构成的平面。由于S点与N点均在正中矢状面上,定位容易,且在生长发育中较稳定,故常被一些学者用于评价上、下颌骨及牙的矢状位置变化及研究生长发育等。其缺点是临床上不能像FH平面那样,对患者进行直接肉眼观察定位。


(3) Bolton平面:由Bolton点与鼻根点(N)相连所构成的平面。常用于头影测量的重叠比较。


(4) 颅底平面(Ba-N):由颅底点(Ba)与鼻根点(N)相连而构成的平面,可视为颅部与颌面部的分界面。Ricketts提倡用此平面进行头影测量的重叠预测。


(5) 真性水平面(TH):采用自然头位时,通过眶下点(Or)作与面外金属垂线影响(真性垂直线)相垂直的水平线所构成的平面,其意义与FH相同。


2. 常用计测平面


头影测量常用计测平面

常用计测平面


(1) 腭平面(PP):由前鼻棘点(ANS)与后鼻棘点(PNS)的连线构成。常用于评价上颌的长度、位置及生长方向。


(2) 牙合平面(OP):不同学者对牙合平面的确定方法略有差异。一般有3种确定方法。


正畸牙合平面的定位

牙合平面的定位


(3) 下颌平面(MP):下颌平面根据不同学者的计测方法有3种:①通过颏下点(Me)与下颌后下缘相切的线;②下颌角点(Go)与颏顶点(Gn)的连线;③通过下颌下缘最低部的切线。其中,前两种最常用。


(4) 下颌支平面(RP):临床上有两种不同的确定方法:①通过下颌升支及髁突后缘的切线;②通过关节点(Ar)及升支后缘的切线。


(5) 面平面(NP):由鼻根点(N)与颏前点(Pog)的连线构成。由于中国人髁突较西方人小,如果下颌向后下旋转生长时,颏前点常难确定。此时,可通过下颌平面向颏前份作垂直的切线,将其切点确定为颏前点。


颏前点的定位方法及面平面的确定

下颌后旋时,颏前点的定位方法及面平面的确定


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来源:当代实用口腔正畸技术与理论/罗颂椒主编/北京:科学技术文献出版社/2010.6 转载联系作者并注明出处。

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